AMI-Serie

Effiziente Scanner-Technology kombiniert mit automatisiertem Messsystem für präzise Ergebnisse: Das ESPEC Ionenmigrations-Testsystem.

Das ESPEC AMI-System misst die Veränderung des Isolationswiderstandes an Prüflingen, verursacht durch Dendritenwachstum und Ionenmigration. Die Messung erfolgt auf der Oberfläche (SIR) oder in der Zwischenlage (CAF). Dem AMI-System lassen sich Prüfprofile mit individuellen Stress- und Messspannungen von derzeit 1 V bis 2.500 V vorgeben. Die Dokumentation und Auswertung erfolgt über eine dedizierte Software, die auf einem hochwertigen PC-System installiert und mit einem Multiplexer kombiniert ist.

• Stabile und unterbrechungsfreie Prüf- und Messspannungen von bis zu 2.500 V.
• Großer Messbereich von 2 x 10³ bis zu 1 x 10¹⁴ Ω
• Echtzeitmessung von Isolationswiderstand, Temperatur und Luftfeuchtigkeit
• Kontinuierliche Messung mit Abtastraten von bis zu 100 μS
• Echtzeitfehlererkennung: Detektion von Ionenmigration im μS Bereich durch Leckstromüberwachung inklusive Einzelkanalabschaltung (Die Abschaltung kann sofort oder je nach eingestellten Prüfparametern auch zu einem späteren Zeitpunkt erfolgen)
• Eigene Spannungsversorgung für jeden Kanal / ab 1000V für 5 Kanäle (Dadurch keine Beeinflussung einzelner Messkanäle untereinander)
• Konstantstromquelle um hohe Ströme bei Kurzschlüssen zu vermeiden
• Eine Messung mit bis zu 300 Messkanälen ist möglich
• Die Messung erfolgt mit hoher Genauigkeit und Effizienz
• Alarm- / Störungsüberwachung der angebundenen Prüfkammer über das Messsystem
• Zeitgleiche Steuerung von bis zu 4 ESPEC Geräten möglich
• Datenverarbeitung auch während der Prüfung möglich
• Eine umfangreiche Auswertesoftware ist inklusive
• Netzwerkfähig