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AMI-Serie

Effiziente Scanner-Technology kombiniert mit automatisiertem Messsystem für präzise Ergebnisse: Das ESPEC Ionenmigrations-Testsystem.

Das ESPEC AMI-System misst die Veränderung des Isolationswiderstandes an Prüflingen, verursacht durch Dendritenwachstum und Ionenmigration. Die Messung erfolgt auf der Oberfläche (SIR) oder in der Zwischenlage (CAF). Dem AMI-System lassen sich Prüfprofile mit individuellen Stress- und Messspannungen von derzeit 1 V bis 2.500 V vorgeben. Die Dokumentation und Auswertung erfolgt über eine dedizierte Software, die auf einem hochwertigen PC-System installiert und mit einem Multiplexer kombiniert ist.

  • Stabile und unterbrechungsfreie Prüf- und Messspannungen von bis zu 2.500 V.
  • Großer Messbereich von 2 x 103 bis zu 1 x 1014
  • Echtzeitmessung von Isolationswiderstand, Temperatur und Luftfeuchtigkeit
  • Kontinuierliche Messung mit Abtastraten von bis zu 100 μS
  • Echtzeitfehlererkennung: Detektion von Ionenmigration im μS Bereich durch Leckstromüberwachung inklusive Einzelkanalabschaltung (Die Abschaltung kann sofort oder je nach eingestellten Prüfparametern auch zu einem späteren Zeitpunkt erfolgen)
  • Eigene Spannungsversorgung für jeden Kanal / ab 1000V für 5 Kanäle (Dadurch keine Beeinflussung einzelner Messkanäle untereinander)
  • Konstantstromquelle um hohe Ströme bei Kurzschlüssen zu vermeiden
  • Eine Messung mit bis zu 300 Messkanälen ist möglich
  • Die Messung erfolgt mit hoher Genauigkeit und Effizienz
  • Alarm- / Störungsüberwachung der angebundenen Prüfkammer über das Messsystem
  • Zeitgleiche Steuerung von bis zu 4 ESPEC Geräten möglich
  • Datenverarbeitung auch während der Prüfung möglich
  • Eine umfangreiche Auswertesoftware ist inklusive
  • Netzwerkfähig

ESPEC Produktübersicht

 

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