AMI-Serie

Das ESPEC AMI-System misst die Veränderung des Isolationswiderstandes an Prüflingen, verursacht durch Dendritenwachstum und Ionenmigration. Die Messung erfolgt auf der Oberfläche (SIR) oder in der Zwischenlage (CAF). Dem AMI-System lassen sich Prüfprofile mit individuellen Stress- und Messspannungen von derzeit 1 V bis 2.500 V vorgeben. Die Dokumentation und Auswertung erfolgt über eine dedizierte Software, die auf einem hochwertigen PC-System installiert und mit einem Multiplexer kombiniert ist.
- Stabile und unterbrechungsfreie Prüf- und Messspannungen von bis zu 2.500 V.
- Großer Messbereich von 2 x 103 bis zu 1 x 1014 Ω
- Echtzeitmessung von Isolationswiderstand, Temperatur und Luftfeuchtigkeit
- Kontinuierliche Messung mit Abtastraten von bis zu 100 μS
- Echtzeitfehlererkennung: Detektion von Ionenmigration im μS Bereich durch Leckstromüberwachung inklusive Einzelkanalabschaltung (Die Abschaltung kann sofort oder je nach eingestellten Prüfparametern auch zu einem späteren Zeitpunkt erfolgen)
- Eigene Spannungsversorgung für jeden Kanal / ab 1000V für 5 Kanäle (Dadurch keine Beeinflussung einzelner Messkanäle untereinander)
- Konstantstromquelle um hohe Ströme bei Kurzschlüssen zu vermeiden
- Eine Messung mit bis zu 300 Messkanälen ist möglich
- Die Messung erfolgt mit hoher Genauigkeit und Effizienz
- Alarm- / Störungsüberwachung der angebundenen Prüfkammer über das Messsystem
- Zeitgleiche Steuerung von bis zu 4 ESPEC Geräten möglich
- Datenverarbeitung auch während der Prüfung möglich
- Eine umfangreiche Auswertesoftware ist inklusive
- Netzwerkfähig